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美國(guó) KRi 射頻離子源 RFICP 220 MEMS 探針光柵刻蝕應(yīng)用
美國(guó) KRi 射頻離子源 RFICP 220 MEMS 探針光柵刻蝕應(yīng)用

高能量 22cm 柵極離子源, MEMS 探針光柵刻蝕, 材料為 Sio2 和金屬, 刻蝕均勻性 ±5%

上海伯東 Hakuto 在線質(zhì)譜分析儀催化劑多孔材料表征
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在線質(zhì)譜分析儀與 BTA 表面分析儀聯(lián)用進(jìn)行催化劑多孔材料表征

IBE 離子束干法刻蝕機(jī)在精密光柵加工中的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
IBE 離子束干法刻蝕機(jī)在精密光柵加工中的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)

上海伯東 IBE 離子束刻蝕機(jī)適用于閃耀羅蘭光柵, AR 眼鏡斜光柵, GaN光柵, 薄膜鈮酸鋰(LN)光柵耦合器制備

上海伯東離子束刻蝕機(jī) 20IBE-C 在 BAW/SAW 濾波器刻蝕中的應(yīng)用
上海伯東離子束刻蝕機(jī) 20IBE-C 在 BAW/SAW 濾波器刻蝕中的應(yīng)用

IBE 離子束刻蝕機(jī) 20IBE-C 成為 BAW/SAW 濾波器制造的關(guān)鍵工藝之一.

IBE 離子束刻蝕機(jī)工作原理與性能特點(diǎn)
IBE 離子束刻蝕機(jī)工作原理與性能特點(diǎn)

IBE (Ion Beam Etching) 離子束刻蝕, 通常使用 Ar 氣體作為蝕刻氣體, 將與電子的沖擊產(chǎn)生的離子在 200~ 1000ev 的范圍內(nèi)加速, 利用離子的物理動(dòng)能

KRi 考夫曼離子源 KDC 40 應(yīng)用于雙腔室高真空等離子 ALD 系統(tǒng)
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KRi 考夫曼離子源 KDC 100 應(yīng)用于 IBE 離子束刻蝕機(jī)
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應(yīng)用于刻蝕 2寸,4寸金屬和多層氧化物, 滿足客戶研發(fā)液晶功能材料及器件, 如光柵器件(透射式, 螺旋式和閃耀式光柵) 等要求.

ph-instruments SRG 磁懸浮轉(zhuǎn)子真空計(jì)可替代 MKS, INFICON 離子規(guī)
ph-instruments SRG 磁懸浮轉(zhuǎn)子真空計(jì)可替代 MKS, INFICON 離子規(guī)

可以替代離子規(guī) MKS 903 AP,MKS GP 390,MKS GP 355,MKS GP 354, Inficon HPG400,Inficon MPG400 等型號(hào)

SRG 磁懸浮轉(zhuǎn)子真空計(jì)應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
SRG 磁懸浮轉(zhuǎn)子真空計(jì)應(yīng)用優(yōu)勢(shì)

耐腐蝕和沉積, 無(wú)燈絲設(shè)計(jì), 替代傳統(tǒng)的離子規(guī)(冷陰極離子規(guī)或熱陰極離子規(guī))

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