溫度范圍: -75°C 至 +225°C, 50 HZ
根據應用, 可選 ATS-545-M 或 ATS-545-T
過熱溫度保護: 出廠設置溫度 +230°C

加熱模式下, 冷凍機可切換成待機模式, 以減少電力消耗
干燥氣流持續吹掃測試表面, 防止水氣凝結
快速升降溫

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或直接聯絡客服: 139-1883-7267

InTest ATS-545 高低溫沖擊熱流儀 溫度范圍: -75°C 至 +225°C

簡介

ATS-545 旋鈕式控制面板, 支持測試數據存儲
溫度范圍: -75°C 至 +225°C, 50 HZ

根據應用, 可選 ATS-545-M 或 ATS-545-T
過熱溫度保護: 出廠設置溫度 +230°C

加熱模式下, 冷凍機可切換成待機模式, 以減少電力消耗
干燥氣流持續吹掃測試表面, 防止水氣凝結
快速升降溫

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技術規格

上海伯東美國 InTest 高低溫沖擊測試機中國總代理: ThermoStream ATS-545 溫度范圍 -75°C 至 +225°C; ESD 防靜電保護設計, 不需要液態氮氣 LN2 或液態二氧化碳 LCO2 冷卻. ATS-545 是舊款熱流儀 Temptronic TPO4310 和 Thermonics T-2820 全新升級款!InTest ATS-545 高低溫沖擊熱流儀適用于電子元件, 集成電路 IC, PCB 電路板的高低溫測試.
inTEST ATS-545 高低溫沖擊熱流儀

InTest ThermoStream ATS-545 技術參數

型號

溫度范圍 °C

* 變溫速率

輸出氣流量

溫度
精度

溫度顯示
分辨率

溫度
傳感器

ATS-545

-75 至 + 225(50 HZ)
-80
至 + 225(60 HZ)
不需要LN2或LCO2冷卻

-55至 +125°C
約 10 S 或更少
+125至 -55°C
約 10 S 或更少

4 至 18 scfm
1.9
至 8.5 l/s

±1
通過美國NIST 校準

±0.1

T或K
熱電偶

* 一般測試環境下; 變溫速率可調節

與友廠對比, InTest ThermoStream 自動復疊式制冷系統 (auto cascade refrigeration) 保證低溫, 內置 AC 交流壓縮機, 冷凍機 Chiller 特殊設計, 制冷劑不含氟利昂, 安全無毒, 不易燃, 保護環境; ESD 防靜電保護設計

InTest  高低溫測試方法:提供兩種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode
通過熱流罩或測試腔將被測 IC 與周邊環境隔離,然后對 IC 循環噴射冷熱氣流,使IC 溫度短時間發生急劇變化,從而完成溫度循環和溫度沖擊的測試。

InTest 高低溫沖擊測試機 ATS-545-M 尺寸
寬 61x 深72.4 x高 108 cm
重量 365 kg
手臂延展最大 160 cm
標準最高操作高度 130.3 cm;(可選188 cm)
標準最低操作高度 69.1 cm;(可選81.3 cm)
噪音 < 65 dBA

與傳統高低溫測試箱, 溫濕度測試箱對比, InTest ThermoStream 高低溫測試機主要優勢:
1. 變溫速率更快
2. 溫控精度:±1℃
3. 實時監測待測元件真實溫度,可隨時調整沖擊氣流溫度
4. 針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊), 可單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對測試機平臺load board上的IC進行溫度循環 / 沖擊; 傳統高低溫箱無法針對此類測試。
6. 對整塊集成電路板提供準確且快速的環境溫度

InTest 高低溫沖擊熱流儀應用
車載芯片及器件, 電源芯片, 功率器件, 通信芯片, 光纖收發器等溫度沖擊測試.

美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 熱流儀中國總代理. 推薦熱流儀應用案例 >>

若您需要進一步的了解 InTest 熱流儀 詳細信息或討論, 請參考以下聯絡方式:
上海伯東: 葉小姐                                                  臺灣伯東: 王小姐
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同號 )                M: +886-939-653-958

現部分品牌誠招合作代理商, 有意向者歡迎聯絡上海伯東 葉小姐 1391-883-7267
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應用案例

上海伯東針對不同客戶, 提供定制化解決方案并能與客戶攜手合作研發新的項目應用

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ATS-545 升降溫速率更快; 可針對眾多元器件中的某一單個收發器, 將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件

InTest ATS-545 熱流儀用于12寸存儲器芯片 MRAM 研發測試
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ATS-545 通過快速提供高低溫測試環境, 成功應用于 12寸存儲器芯片 MRAM 研發測試

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ATS-545-M 熱流儀與其測試設備搭配, 為分析時鐘芯片的各項特性, 提供快速可靠的溫度環境. 助力企業填補了國內時鐘領域的技術空白

InTest ATS-545 熱流儀車規級芯片高低溫沖擊測試
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ATS-545 滿足汽車半導體行業更嚴格及更高效的測試要求, 可以對微控制單元 MCU, 傳感器和存儲器 DRAM 等車載芯片進行快速高低溫沖擊測試, 極大節約了客戶研發成本

InTest 熱流儀電源管理芯片高低溫沖擊測試
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InTest 熱流儀提供 -100°C 至 +225°C 快速溫度沖擊范圍, 滿足各類電源管理芯片的高低溫沖擊測試.

InTest ATS-545 熱流儀 PCB 板電子芯片高低溫測試
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ATS-545 模擬 PCB 板在氣候環境下操作及儲存的適應性,已確保其在極端環境下也可正常工作

InTest ATS-545 熱流儀車載顯示器高低溫光學測量應用
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ATS-545 適用于高低溫環境和光照環境下的車載顯示器光學測試系統, 實現各類車載顯示器在環境溫度和光照環境下的光學項目測試.

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