上海伯東美國(guó) InTest 擁有當(dāng)今市場(chǎng)上最寬泛的溫度控制技術(shù)和產(chǎn)品, 不使用液氮或液態(tài)二氧化碳, 專(zhuān)有自動(dòng)級(jí)聯(lián)系統(tǒng)使用機(jī)械冷卻,即基于壓縮機(jī)的冷卻, 以達(dá)到 -100°C的超低溫度！
InTest Temtronic 熱流儀在電子產(chǎn)品中扮演重要的角色, 從產(chǎn)品開(kāi)發(fā)到生產(chǎn)測(cè)試, 再到故障分析,都可能需要一些精確且經(jīng)常極端的溫度控制. 今天, 了解溫度對(duì)電子設(shè)備的影響至關(guān)重要, 不僅要了解導(dǎo)致電子設(shè)備故障的溫度, 還要了解電子部件的行為如何變化以及如何受到溫度的影響.
上海伯東美國(guó) InTest Temptronic ATS 系列熱流儀, 移動(dòng)型便攜式設(shè)計(jì), 提供清潔干燥的冷熱循環(huán)沖擊氣流, 快速精準(zhǔn)的測(cè)試溫度, 適合模擬各種溫度測(cè)試和調(diào)節(jié)的應(yīng)用, 廣泛應(yīng)用于集成電路 IC 卡, 電子芯片, 閃存, 光纖收發(fā)器或電子電路的在電高低溫循環(huán)試驗(yàn) Thermal cycle, 高低溫沖擊測(cè)試 thermal shock, 特性分析等.
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Temptronic ATS 系列高低溫測(cè)試機(jī)特性：
冷凍機(jī) (Chiller) 特殊設(shè)計(jì), 不需要液態(tài)氮?dú)饣蚨趸祭鋮s
每秒可快速升溫或降溫 18°C
分辨率 +-0.1℃
溫度精度 +-1.0℃ (通過(guò)美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院 NIST 校準(zhǔn))
模擬溫度極限高點(diǎn) + 300 ℃；極限低點(diǎn) -100 ℃
通訊接口 IEEE 488 和 RS-232
控制面板可選旋鈕或觸摸屏操作
特殊設(shè)計(jì)，防止水氣在 DUT上凝結(jié)
2種檢測(cè)模式 Air Mode 和 DUT Mode
與傳統(tǒng)高低溫試驗(yàn)箱對(duì)比, 上海伯東 inTEST 熱流儀主要優(yōu)勢(shì)：
1. 變溫速率更快, 每秒可快速升溫/降溫 15 °C
2. 溫控精度: ±1℃
3. 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度, 可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4. 針對(duì) PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊), 可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái) load board上 的 IC 進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無(wú)法針對(duì)此類(lèi)測(cè)試
6. 對(duì)整塊集成電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度。
Temptronic ATS-500 系列熱流儀: 從小型臺(tái)式的 -20℃ 到 -80℃ 的大型機(jī)型, 適用于實(shí)驗(yàn)室或工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中, 傳統(tǒng)的半導(dǎo)體和小裝配溫度測(cè)試.
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inTEST 型號(hào) |
溫度范圍 °C |
氣體流量 scfm |
變溫速率 |
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-20 至 +225 |
低溫4 高溫 10 |
0 至 +125°C, <3 min |
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-45 至 +225 |
10 |
-40至+125°C, <12 sec |
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-60 至 +225 |
低溫4 高溫 10 |
-40至 +125°C, <12 sec |
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ATS-535 |
-60 至 +225 |
5 |
-40至 +125°C, <12 sec |
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-80至 +225 |
12,最大 18 |
-55至+125°C, <10 sec |
Temptronic ATS-700E 系列熱流儀: 由幾種高容量的 THERMOSTREAM® 系統(tǒng)組成, 此設(shè)計(jì)是為了快速和精確控制您的組件和模塊到達(dá)所需要的溫度, 極限溫控功能 -100°C 至 +300°C, 不僅可以經(jīng)由加速到達(dá)設(shè)定溫度的時(shí)間來(lái)提高產(chǎn)能, 還可以讓高功率組件和大熱容量基材以美國(guó)標(biāo)準(zhǔn) (MIL-STD) 測(cè)試條件下, 24 小時(shí) 7天的連續(xù)測(cè)試. 無(wú)論是單獨(dú)直接測(cè)試還是用在外接的腔體, 強(qiáng)大靈活的 ATS-700 系列高低溫測(cè)試機(jī)都適用.
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型號(hào) |
高低溫氣流沖擊范圍 °C |
氣體流量 scfm |
變溫速率 |
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-80°C to +225°C |
12,最大 18 |
-55至 +125°C <10 sec |
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-90°C to +225°C |
18 |
-55至 +125°C <10 sec |
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-90°C to +300°C |
18 |
-40至 +125°C <12 sec +125至 -40°C <40 sec |
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-100°C to +225°C |
8,最大 12 |
-55至 +125°C <10 sec +125至 -55°C <10 sec |
* 以上系統(tǒng)擁有共通的操作工作接口
上海伯東美國(guó) InTest 推出 Temptronic® ThermoStream® Eco環(huán)保系列高低溫沖擊熱流儀, 高性能, 低能耗, 運(yùn)行時(shí)噪音更低. 型號(hào)包含 ECO-710E 和 ECO-560, 滿(mǎn)足實(shí)驗(yàn)室研發(fā),半導(dǎo)體行業(yè)要求
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型號(hào) |
溫度范圍°C |
輸出氣流量 |
變溫速率 |
溫度 |
溫度顯示分辨率 |
溫度 |
噪音值 |
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-80 至 +225 |
4 至 18 scfm |
-55至 +125°C 約 10 s |
±1℃ |
±0.1℃ |
T型或 |
<56 dBA |
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-60 至+ 200 |
4 至 18scfm |
-40 至+ 150°C <15 s |
±1℃ |
±0.1℃ |
T型或 |
<57 dBA |
產(chǎn)品分類(lèi)
相關(guān)產(chǎn)品應(yīng)用案例
InTest BT28 適用于對(duì)低溫要求不高的非高功率芯片或者器件測(cè)試, 例如光模塊, 光通訊研發(fā), 存儲(chǔ)芯片, MCU 芯片研發(fā)等
ATS-545 通過(guò)快速提供高低溫測(cè)試環(huán)境, 成功應(yīng)用于 12寸存儲(chǔ)器芯片 MRAM 研發(fā)測(cè)試
ATS-535 為半導(dǎo)體功率器件 ( MOSFET, IGBT, SIC, GaN,車(chē)規(guī)級(jí)芯片…), 功率模塊, 功率集成電路, 智能傳感器等芯片研發(fā)提供高低溫測(cè)試解決方案.
ATS-545 模擬 PCB 板在氣候環(huán)境下操作及儲(chǔ)存的適應(yīng)性，已確保其在極端環(huán)境下也可正常工作
在 -40℃ 至 175℃ 溫度下對(duì) IGBT 進(jìn)行快速溫度循環(huán)沖擊和功率循環(huán)測(cè)試. ATS-710E 高低溫沖擊熱流儀搭配測(cè)試機(jī)平臺(tái) load board 為 IGBT 功率器件溫度測(cè)試提供解決方案.
ATS-710E 與德國(guó) AUTRONIC DMS 液晶顯示屏測(cè)量系統(tǒng)聯(lián)用進(jìn)行 LED 環(huán)境溫度測(cè)試. 每個(gè) DMS 系統(tǒng)都可以擴(kuò)展一個(gè)適當(dāng)?shù)睦錈嵯到y(tǒng), 以進(jìn)行 LED 光學(xué)顯示特性和一致性測(cè)試的溫度相關(guān)測(cè)量.
ATS-545 適用于高低溫環(huán)境和光照環(huán)境下的車(chē)載顯示器光學(xué)測(cè)試系統(tǒng), 實(shí)現(xiàn)各類(lèi)車(chē)載顯示器在環(huán)境溫度和光照環(huán)境下的光學(xué)項(xiàng)目測(cè)試.
ATS-545 滿(mǎn)足汽車(chē)半導(dǎo)體行業(yè)更嚴(yán)格及更高效的測(cè)試要求, 可以對(duì)微控制單元 MCU, 傳感器和存儲(chǔ)器 DRAM 等車(chē)載芯片進(jìn)行快速高低溫沖擊測(cè)試, 極大節(jié)約了客戶(hù)研發(fā)成本
InTest ECO-560 高低溫測(cè)試機(jī) 400G 光模塊溫度測(cè)試, 光模塊目前廣泛應(yīng)用于數(shù)據(jù)中心, 5G 移動(dòng)通信和人工智能行業(yè).
ATS-545 升降溫速率更快; 可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)收發(fā)器, 將其隔離出來(lái)單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
InTest ATS-505 熱流儀集成電路 IC 卡高低溫測(cè)試
滿(mǎn)足客戶(hù)身份證用 NFC 芯片研發(fā)生產(chǎn)要求, 雙界面 IC卡芯片廣泛應(yīng)用于金融 IC卡, 社保卡, 交通, ETC, 居民健康卡等應(yīng)用場(chǎng)景.
ATS-750E 熱流儀又獲車(chē)載功率芯片高低溫測(cè)試訂單！為新能源汽車(chē)安全”保駕護(hù)航”！
冷卻能力更強(qiáng) -55C@55W, 適用于高功率芯片測(cè)試, MOSFET, IGBT, 集成電路 IC, 存儲(chǔ)芯片Memory等
ATS-545-M 熱流儀與其測(cè)試設(shè)備搭配, 為分析時(shí)鐘芯片的各項(xiàng)特性, 提供快速可靠的溫度環(huán)境. 助力企業(yè)填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)時(shí)鐘領(lǐng)域的技術(shù)空白
InTest 熱流儀提供 -100°C 至 +225°C 快速溫度沖擊范圍, 滿(mǎn)足各類(lèi)電源管理芯片的高低溫沖擊測(cè)試.
