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InTest 熱銷型號 |
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溫度范圍 °C |
-75 至 + 225 |
-75至+225 |
-60 至 +225 |
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變溫速率 |
-55 至 +125°C 約 10 S |
-55 至 +125°C 約 10 s |
-40至+ 125°C < 12 s |
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空壓機 |
額外另配 |
額外另配 |
內部集成空壓機 |
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控制方式 |
旋鈕式 |
觸摸屏 |
旋鈕式 |
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氣體流量 scfm |
4 至 18 |
4 至 18 |
5 |
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溫度顯示和分辨率 |
+/- 0.1°C |
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溫度精度 |
1.0°C(根據 NIST 標準校準時) |
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電源管理芯片高低溫沖擊測試案例: 應用于電子消費品行業的電源芯片, 下圖為實際的被測電源芯片, 焊在 PCB 板上. 需要在通電的情況下進行溫度測試.
測試溫度范圍﹣60℃ - 150℃, 進行 12組不同形式的循環溫度設定.
使用型號: inTEST ATS-545

電源管理芯片高低溫沖擊測試案例: 應用于汽車電子行業的電源管理芯片, 在電測試時, 同時搭配測試儀, 設定不同的溫度數值, 檢查不同溫度下電源芯片各項功能是否正常. 通過使用上海伯東美國 inTEST 熱流儀, 大幅提高工作效率, 并能及時評估研發過程中的潛在問題.
測試溫度范圍: -40℃ - 80 ℃
使用型號: inTEST ATS-710E

電源管理芯片高低溫沖擊測試案例: 應用于電力系統的電源管理芯片, 因客戶研發場地受限, 無法使用空壓機, 最終選用 ATS-535 內部集成空壓機的高低溫沖擊機進行測試.
測試溫度范圍: -60℃ - 150 ℃
使用型號: inTEST ATS-535

電源管理芯片 Power Management Integrated Circuits 是在電子設備系統中擔負起對電能的變換, 分配, 檢測及其他電能管理職責的芯片. 在電源的設計中, 需要用到各種形式的管理芯片, 在電測試下, 隨著電源溫度的變化, 需要保證芯片的正常運轉, 一般芯片的溫度越高, 可靠度越低, 失效率就會變高. 因此在芯片的設計之初就要考慮溫度問題.
美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 熱流儀中國總代理.推薦熱流儀應用案例 >>
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上海伯東: 葉小姐 臺灣伯東: 王小姐
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InTest 熱流儀電源管理芯片高低溫沖擊測試
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