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車規級芯片高低溫沖擊測試方法
采用美國 inTEST DUT (測試元件) 方法, 可使被測芯片的溫度與設定溫度達到一致, 實現自動控制壓縮空氣溫度的功能. 依靠這個功能, 溫控箱的形狀, 被測芯片的發熱量, 工作空氣吹到檢查對象的路徑, 都不會影響對被測芯片的溫度控制.

1. 將被測芯片或模塊放置在測試治具上, 將 ATS-545 的玻璃罩壓在相應治具上 ( 產品放在治具中 ).
2. 設置需要測試的溫度范圍.
3. 啟動 ThermoStream ATS-545, 利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入高低溫測試機內部制冷機進行低溫處理, 然后空氣經由管路到達加熱頭進行升溫, 氣流通過玻璃罩進入測試腔. 玻璃罩中的溫度傳感器可實時監測當前腔體內溫度.
4. 在汽車電子芯片測試平臺下, 高低溫測試機 ATS-545 快速升降溫至要求的設定溫度, 實時檢測芯片在設定溫度下的在電工作狀態等相關參數, 對于產品分析, 工藝改進以及批次的定向品質追溯提供確實的數據依據.

在芯片測試中, 可為測試計劃確定相應的要求, 如溫度循環實驗, 不同等級的溫變范圍及溫差循環數等. inTEST 熱流儀可根據預先設定的溫度范圍, 實現快速的溫度沖擊, 如溫度范圍 -40℃~125℃, 可分別設置低溫 -40℃, 常溫 25℃ 及高溫 125℃, 熱流儀將按照先后順序自動進行相應測試. 針對不同的測試應用, inTEST 可通過每秒快速升溫或降溫 18°C, 為車載模塊或電路板中的某一單個器件提供精確且快速的環境溫度.
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美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 熱流儀中國總代理.推薦熱流儀應用案例 >>
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InTest ATS-545 熱流儀車規級芯片高低溫沖擊測試
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