上海伯東美國 InTest 熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子和高功率芯片的溫度循環 Thermal Cycling, 溫度沖擊試驗 Thermal Shock , 滿足芯片特性和故障分析的需求. InTest 熱流儀和其他測試儀器聯用時, 通訊方便, 無異常中斷風險, 可連續運行.
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主要型號

技術參數

Temptronic ATS-500 系列熱流儀: 從小型臺式的 -20℃ 到 -80℃ 的大型機型, 適用于實驗室或工業生產環境中, 傳統的半導體和小裝配溫度測試.

inTEST 型號

溫度范圍 °C

氣體流量 scfm

變溫速率

BT-28

-28 至 +225

4-14

-10至 +125°C, 約10S或更快
+125 至 -10°C, <約10S或更快
 

ATS-505

-20 至 +225

低溫4 高溫 10

0 至 +125°C, <3 min
+125 至 0°C, <4 min

ATS-515

-45 至 +225

10

-40至+125°C, <12 sec
+125至 -40°C, <40 sec

ATS-525

-60 至 +225

低溫4 高溫 10

-40至 +125°C, <12 sec
+125至 -40°C, <40 sec

ATS-535
內置空壓機

-60 至 +225

5

-40至 +125°C, <12 sec
+125至 -40°C, <40 sec

ATS-545

-80至 +225

12,最大 18

-55至+125°C, <10 sec
+125至 -55°C, <10 sec


Temptronic ATS-700E 系列熱流儀: 由幾種高容量的 THERMOSTREAM® 系統組成, 此設計是為了快速和精確控制您的組件和模塊到達所需要的溫度, 極限溫控功能 -100°C 至 +300°C, 不僅可以經由加速到達設定溫度的時間來提高產能, 還可以讓高功率組件和大熱容量基材以美國標準 (MIL-STD) 測試條件下, 24 小時 7天的連續測試. 無論是單獨直接測試還是用在外接的腔體, 強大靈活的 ATS-700 系列高低溫測試機都適用.

型號

高低溫氣流沖擊范圍 °C

氣體流量 scfm

 變溫速率

ATS-710E

-80°C to +225°C

12,最大 18

-55至 +125°C <10 sec
+125至 -55°C <10 sec 

ATS-730E

-90°C to +225°C
高容量

18

-55至 +125°C <10 sec
+125至 -55°C <10 sec 

ATS-750E

-90°C to +300°C
高溫度、高容量

18

-40至 +125°C <12 sec

+125至 -40°C <40 sec 

ATS-770E

-100°C to +225°C
超低溫度

8,最大 12

-55至 +125°C <10 sec

+125至 -55°C <10 sec

* 以上系統擁有共通的操作工作接口