時鐘芯片需要高低溫沖擊測試
時鐘芯片, 也叫時鐘電路, 是可以產生像時鐘一樣準確運動的振蕩電路. 組成時鐘電路的部件一般包括晶震控制芯片, 晶體振蕩器和電容組成. 時鐘芯片計時精度誤差源于晶體振蕩電路的頻率誤差, 而晶體振蕩頻率都會受到環境溫度影響, 比如時鐘芯片在溫度驟降情況下, 晶體的頻率會有一個很大的變化, 所以需要對不同溫度下時鐘芯片的計時誤差進行準確測試. 如果設計過程中不驗證其不同溫度下的各項性能, 在極端溫度范圍內計時精度誤差會很大, 影響到時鐘在使用中的精準度.

上海伯東美國 InTest 熱流儀時鐘芯片高低溫沖擊測試方法
客戶要求溫度范圍 -40 至 90℃, 此前通過傳統溫箱進行溫度測試, 在高溫及低溫測試中, 單次通常需要30分鐘左右, 且無法單獨對所需芯片進行針對性的測試, 影響測試效率, 通過各種測試方案對比, 最終選用上海伯東美國 InTest 熱流儀. InTest 熱流儀可快速模擬需要的測試環境, 與其他高低溫設備對比, 在時效及測試方式等方面更有優勢.

熱流儀型號: InTest ATS-545-M
測試對象: 時鐘芯片
測試溫度范圍: 正常大氣壓下, 工作溫度 -40℃ 至 90℃

1. 啟動 ATS-545-M, 利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入制冷機進行低溫處理, 然后空氣經由外部管路到達設備內部進行升溫或降溫
2. 根據測試要求, 設置 ThermoStream ATS-545-M 為 Air 或 DUT Mode 模式, 環境可靠性測試中, 時鐘芯片通常要求的測試溫度范圍為, 正常大氣壓下, 工作溫度 -40℃ 至 90℃.
3. 在測試中, 設置好需要的 Hot, Ambient 及 Cold 溫度后, 點擊 Head 按鍵, 降低玻璃罩高度, 使測試罩下降并完全罩住測試區域, 此時開始進行相應溫度段的測試.
4. ATS-545-M 顯示屏可實時監測當前循環沖擊氣流溫度, 而且自帶過熱溫度保護系統, 出廠設置溫度 +230°C, 操作員可根據實際需要設置高低溫限制點, 當溫度達到設置溫度時, 測試機將自動停機.

美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 熱流儀中國總代理.推薦熱流儀應用案例 >>

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