雙界面 IC 卡芯片高低溫沖擊測試解決方案
測試溫度范圍: -55℃ 至 150℃
因場地受限, 上海伯東推薦使用集成空壓機的美國 InTest 熱流儀 ATS-535

InTest ATS-535 熱流儀提供 Air Mode 和 DUT Mode 兩種測試方式. 在實際測試中, 如果是單顆待測器件, 則將熱電偶探頭放置于器件周邊, 越靠近器件越好. 此時, 熱流儀輸出的氣體溫度將使此熱電偶處的溫度達到設定值, 可搭配各類測試機臺在電共同進行芯片測試.

InTest ATS-535
集成空壓機
溫度范圍:  -60至+ 225°C
變溫速率:  -40至+ 125°C <12秒
               +125至-40°C <40秒
輸出氣流量: 5scfm(2.4l / s)固定流量
溫度精度: ±1℃ 通過美國 NIST 校準
溫度顯示分辨率: ±0.1℃
溫度傳感器: T或K型熱電偶
整機噪音 : < 70 dBA

InTest ATS-535


上海伯東美國 InTest ThermoStream ATS-535 是內部集成空壓機的高低溫沖擊熱流儀, 整機噪音 < 70 dBA, 不需要額外安裝空壓機即可完成各類芯片的高低溫沖擊試驗. 特別適用于對環境噪音有嚴格要求的寫字樓園區或研發環境, 除了機動性方便移動外, 更可省去您重新評估空壓系統及配管的時間及人力成本, 解決了因為環境受限無法提供壓縮氣體的芯片高低溫測試難題.

隨著手機集成度的提高, 身份認證, 金融支付, 設備鑒權等更多應用都將集成在安全芯片中, 伯東公司美國 InTest 高低溫沖擊熱流儀, 為各類 IC 芯片的溫度測試, 提供適合的解決方案, 助力客戶研發生產兼具安全性高, 數據傳輸穩定, 存儲容量大等特點的高質量芯片產品. 

美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 流儀中國總代理. 推薦熱流儀應用案例 >>

若您需要進一步的了解 InTest 流儀詳細信息或討論, 請參考以下聯絡方式:
上海伯東: 葉小姐                                                臺灣伯東: 王小姐
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同號 )              M: +886-939-653-958

現部分品牌誠招合作代理商, 有意向者歡迎聯絡上海伯東 葉小姐 1391-883-7267
上海伯東版權所有, 翻拷必究!

InTest ATS-535 雙界面 IC 卡芯片高低溫沖擊測試

上海伯東版權所有, 翻拷必究!

推薦搭配

一鍵分享

分享此頁

上海伯東版權所有, 翻拷必究!

更新 : 2026-01-22

閱讀數 : 216