美國(guó) InTest 高低溫沖擊熱流儀搭配測(cè)試機(jī)臺(tái)進(jìn)行車載用 SD NAND 閃存的溫度測(cè)試
上圖: 美國(guó) InTest 高低溫沖擊熱流儀搭配測(cè)試機(jī)臺(tái)進(jìn)行車載用 SD NAND 閃存的溫度測(cè)試.

為了保證每一枚 SD NAND 的質(zhì)量, 推薦使用上海伯東美國(guó) InTest ATS 系列高低溫沖擊熱流儀搭配 NAND 閃存測(cè)試機(jī), 可以為 SD NAND 提供 -75℃ 至 225℃ 的溫度模擬環(huán)境,對(duì) SD NAND 閃存進(jìn)行高低溫老化測(cè)試,從而檢驗(yàn)穩(wěn)定性.

一、美國(guó) InTest 高低溫沖擊熱流儀在 SD NAND 閃存溫度測(cè)試中的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
1.InTest 熱流儀從 -55°C 至 +125°C 的溫度變化時(shí)間只需 10 s, 快速的變溫速率, 提升了 SD NAND 的測(cè)試效率.
2. InTest 熱流儀出廠自帶 Ethernet, IEEE-488, RS232 通訊接口, 配合連接客戶端的操作系統(tǒng), 可以遠(yuǎn)程獲取和更改熱流儀的溫度設(shè)定值, 使得 SD NAND 的測(cè)試更加方便
3. InTest 熱流儀溫度精度高達(dá)±1°C,顯示分辨率達(dá)到±0.1°C,能夠?qū)崿F(xiàn)精準(zhǔn)控溫,可以為客戶提供更精準(zhǔn)的 SD NAND 測(cè)試數(shù)據(jù).

美國(guó) InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過(guò) NIST 校準(zhǔn). 通過(guò) ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測(cè)試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國(guó) InTest 熱流儀<>中國(guó)總代理. 推薦熱流儀應(yīng)用案例 >>

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更新 : 2026-07-29

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