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上海伯東代理 ULVAC-PHI 愛發科費恩斯超高真空表面分析儀器, 包含光電子能譜儀 ( XPS ) ,俄歇電子能譜儀 (AES), 飛行時間二次離子質譜儀 (Tof-SIMS) 和動態二次離子質譜儀 (D-SIMS ), 應用領域涵蓋納米技術, 太陽能技術, 微電子技術, 存儲介質, 催化, 生物材料, 藥品以及金屬, 礦物, 聚合物, 復合材料和涂料等基礎材料, 滿足科學研究, 失效分析, 產品質量檢測等需要.
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