ULVAC-PHI 超高真空表面分析
上海伯東代理 ULVAC-PHI 愛發(fā)科費(fèi)恩斯超高真空表面分析儀器, 包含光電子能譜儀 ( XPS ) ,俄歇電子能譜儀 (AES), 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀 (Tof-SIMS) 和動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀 (D-SIMS ), 應(yīng)用領(lǐng)域涵蓋納米技術(shù), 太陽能技術(shù), 微電子技術(shù), 存儲介質(zhì), 催化, 生物材料, 藥品以及金屬, 礦物, 聚合物, 復(fù)合材料和涂料等基礎(chǔ)材料, 滿足科學(xué)研究, 失效分析, 產(chǎn)品質(zhì)量檢測等需要.
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