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ECO-710 微處理器芯片測試解決方案
在進行微處理器芯片測試中, 客戶要求測試溫度 -40 到 125 °C
ECO-710 測試的溫度范圍 -80 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, 該產品完美解決客戶的需求.
上海伯東美國 InTest 高低溫測試機 ECO-710 搭配 delta design 測試機共同進行微處理器芯片測試, 有效提高了芯片測試的速度和準確性, 快速進行在電工作的電性能測試, 失效分析, 可靠性評估等.
InTest_ECO-710

微處理器芯片高低溫測試方法
1. 將待測微處理器芯片放置在玻璃罩中
2. 操作員設置需要測試的溫度范圍
3. 啟動 ThermoStream ECO-710, 利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入制冷機進行低溫處理, 然后空氣經由外部管路到達加熱頭進行升溫, 氣流通過熱流罩進入測試腔.
玻璃罩中的溫度傳感器可實時監測當前腔體內溫度, 高低溫測試機 ECO-710 自帶過熱溫度保護系統, 操作員也可根據實際需要設置高低溫限制點.
InTest_ECO710

美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 熱流儀中國總代理. 推薦熱流儀應用案例 >>

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