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ECO-710 微處理器芯片測(cè)試解決方案
在進(jìn)行微處理器芯片測(cè)試中, 客戶要求測(cè)試溫度 -40 到 125 °C
ECO-710 測(cè)試的溫度范圍 -80 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, 該產(chǎn)品完美解決客戶的需求.
上海伯東美國(guó) InTest 高低溫測(cè)試機(jī) ECO-710 搭配 delta design 測(cè)試機(jī)共同進(jìn)行微處理器芯片測(cè)試, 有效提高了芯片測(cè)試的速度和準(zhǔn)確性, 快速進(jìn)行在電工作的電性能測(cè)試, 失效分析, 可靠性評(píng)估等.
InTest_ECO-710

微處理器芯片高低溫測(cè)試方法
1. 將待測(cè)微處理器芯片放置在玻璃罩中
2. 操作員設(shè)置需要測(cè)試的溫度范圍
3. 啟動(dòng) ThermoStream ECO-710, 利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理, 然后空氣經(jīng)由外部管路到達(dá)加熱頭進(jìn)行升溫, 氣流通過熱流罩進(jìn)入測(cè)試腔.
玻璃罩中的溫度傳感器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)當(dāng)前腔體內(nèi)溫度, 高低溫測(cè)試機(jī) ECO-710 自帶過熱溫度保護(hù)系統(tǒng), 操作員也可根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置高低溫限制點(diǎn).
InTest_ECO710

美國(guó) InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準(zhǔn). 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測(cè)試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國(guó) InTest 熱流儀中國(guó)總代理. 推薦熱流儀應(yīng)用案例 >>

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