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安全芯片多用于銀行卡, 門禁卡及物聯網中, 由于受到工作空間狹小, 芯片接觸面積小, 空氣流通環境差, 散熱的條件不好等影響,芯片表面可能會經歷快速升溫, 并且需要在高溫的環境中長時間工作; 同時實驗室也會搜集一些芯片的高低溫運行的數據做留存資料.所以測試安全芯片在快速變溫過程中的穩定性十分必要.

上海伯東安全芯片高低溫測試客戶案例:某半導體公司,安全芯片測試溫度要求 ﹣40℃～105℃, 選用 InTEST ATS-545 與泰瑞達測試機聯用, 對安全芯片進行快速冷熱沖擊, 設置 12組不同形式的循環溫度設定,快速得到完整精確的數據.

示意圖

inTEST ATS-545 安全芯片高低溫沖擊測試

InTest ThermoStream ATS-545 技術參數:

型號	溫度范圍 °C	* 變溫速率	輸出氣流量	溫度精度	溫度顯示分辨率	溫度傳感器
ATS-545	-75 至 + 225(50 HZ) -80 至 + 225(60 HZ) 不需要LN2或LCO2冷卻	-55至 +125°C 約 10 S 或更少 +125至 -55°C 約 10 S 或更少	4 至 18 scfm 1.9至 8.5 l/s	±1℃ 通過美國NIST 校準	±0.1℃	T或K型熱電偶

美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 熱流儀中國總代理.推薦熱流儀應用案例 >>

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