半導體芯片溫度測試案例: 上海伯東客戶某半導體廠商選用 InTest Temptronic thermostream ATS-710-M 高速溫度測試機, 提供循環測試溫度：-80°C 至 +225°C，每秒可快速升溫/降溫 18 °C，成功完成芯片的高低溫循環測試, 疲勞失效測試.

InTest Temptronic ATS-710-M 提供 2 種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode，溫度顯示精度：±1°C (通過美國國家標準與技術研究院 NIST 校準) ，不需要液態氮氣 (N2) 或液態二氧化碳 (CO2)冷卻。

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ATS-710-M
上海伯東客戶現場圖片：

InTest 高低溫沖擊熱流儀

美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 熱流儀中國總代理.推薦熱流儀應用案例 >>

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