inTEST 閃存 Flash/EMMC 高低溫測試

閃存溫度測試原因
為確保閃存可在極端溫度環境(例如: 油氣探勘、重工業以及航空領域)可正常實現穩健的閃存讀/寫操作功能,因此在出廠前需要進行溫度測試,InTest - Temptronic ThermoStream 超高速高低溫循環測試機憑借可測試溫度 -100 ℃ 至 +300 ℃,每秒可快速升溫或降溫 18°C,溫度精度 +-1.0℃等優勢廣泛應用于閃存制造行業。上海伯東作為 InTest 中國地區總代理,全權負責其新品銷售和售后維修服務

閃存溫度測試方法:
通過與愛德萬 (Advantest ) 內存 IC 測試系統搭配之下,客戶可直接在極端溫度下測試閃存的運作特性。根據客戶實際要求,上海伯東推薦選用 inTEST ATS-545-M 高低溫循環測試機,并提供兩種溫度操作模式: Air mode 及 DUT mode

閃存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式來進行高低溫循環測式,將閃存與 InTest ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互連接,如此即可精確掌控受測物達到機臺所設定之溫度。閃存高低溫測試方法同樣適合內嵌式記憶體eMMC 溫度測試。inTEST-Temptronic thermostream 高低溫測試機可與愛德萬 advantest,泰瑞達 teradyne,惠瑞捷 verigy 工程機聯用,進行芯片高低溫循環測試.
InTest ATS 545

美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 流儀中國總代理. 推薦熱流儀應用案例 >>

若您需要進一步的了解 InTest 流儀詳細信息或討論, 請參考以下聯絡方式:
上海伯東: 葉小姐                                                  臺灣伯東: 王小姐
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同號 )              M: +886-939-653-958

現部分品牌誠招合作代理商, 有意向者歡迎聯絡上海伯東 葉小姐 1391-883-7267
上海伯東版權所有, 翻拷必究!

上海伯東版權所有, 翻拷必究!

推薦搭配

一鍵分享

分享此頁

上海伯東版權所有, 翻拷必究!

更新 : 2026-01-23

閱讀數 : 188