光模塊需要進行高低溫測試
光模塊是由發射器和接收器組成, 當發射器通過光纖與接收器連接時, 如果整個系統的誤碼率沒有達到預期的效果, 是發射器的問題還是接收器的問題? 一個成品的光模塊, 為保證產品的質量, 要經過多個步驟的測試方可出廠. 其中在通訊領域的應用需要在 -40 到85度測試其接發功能, 因此需要進行高低溫測試.

上海伯東 100G 光模塊高低溫測試客戶案例: 四川某家領先的光模塊生產商, 生產和銷售多種類的高性能光模塊和光器件, 產品廣泛應用于數據中心, 電信網絡（FTTx, LTE和傳輸), 智能電網等 ICT 行業. 通過上海伯東推薦采購 InTest ThermoStream ATS-710E 用于 100G 光模塊量產測試.
InTest

100G 光模塊高低溫測試過程
1. 將已與 ATS-710 連接的電腦端設置 -40度及 85度兩個值的循環
2. 把出氣端玻璃罩移動到客戶工裝進氣口
3. 將一對光模塊插進工裝里面的板卡接口
4. 點擊啟動按鈕, 將光模塊表面迅速加熱及降溫至設定測
5. 運行光模塊, 檢測光模塊性能, 性能 OK后點擊暫停.取出光模塊;
7. 重復 4, 5, 6 這三個操作, 并儲存相關數據.
InTest 高低溫沖擊熱流儀

美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 熱流儀中國總代理. 推薦熱流儀應用案例 >>

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InTest ATS-710E 100G 光模塊高低溫沖擊測試

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更新 : 2026-01-23

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