InTest 熱流儀應用于集成電路科研項目案例: 國內某高校經過伯東推薦選用 InTest 高低溫測試機 ATS-545 用于研發高性能微處理器, 網絡通信芯片, 功率器件, 藍牙芯片等科研項目. 如工業級 ICU 芯片要求測試溫度 -40℃ 至 110℃, 溫變速率 -50℃ 至 125℃≤10s, 在帶電情況下, 分別設置高溫, 常溫, 低溫進行溫度循環.
inTest

ATS-545

ATS-545-M
溫度范圍 °C: -75 至 + 225(50 HZ)
變溫速率: -55至 +125°C
               約 10 S 或更少
              +125至 -55°C
              約 10 S 或更少
輸出氣流量: 4 至 18 scfm
溫度精度: ±1℃ 通過美國NIST 校準
溫度顯示分辨率: ±0.1℃
溫度傳感器: T或K型熱電偶
防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻


上海伯東美國 InTest 熱流儀通過每秒快速升溫或降溫 18°C, 對 PCB 電路板中的某一單個 IC (模塊) 或整塊集成電路提供精確且快速的環境溫度. 與傳統高低溫試驗箱不同的是 inTEST 高低溫測試機可針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個 IC (模塊)可單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件. 

美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest 熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 流儀中國總代理. 推薦熱流儀應用案例 >>

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上海伯東: 葉小姐                                                  臺灣伯東: 王小姐
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同號 )                M: +886-939-653-958

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InTest 熱流儀集成電路 IC 芯片高低溫沖擊測試

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更新 : 2026-01-23

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