上海伯東美國(guó) InTest 熱流儀提供觸摸屏控制芯片高低溫測(cè)試解決方案
某觸控芯片企業(yè), 其產(chǎn)品已在全球十多億臺(tái)智能設(shè)備上運(yùn)行, 廣泛應(yīng)用于手機(jī), 平板電腦, 筆記本電腦, 智能家居, 汽車等產(chǎn)品. 一直采用上海伯東美國(guó) InTest ATS-710E-M 熱流儀與其測(cè)試機(jī)搭配, 為分析觸摸屏控制芯片, 觸摸板控制芯片, MCU 觸摸按鍵等產(chǎn)品的特性提供快速精準(zhǔn)的外部溫度環(huán)境, 實(shí)現(xiàn)測(cè)試芯片性能的要求.

InTest 熱流儀滿足觸控芯片的三項(xiàng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):
一. 基本性能測(cè)試: 溫度范圍 -50℃ 至 120℃ 之間快速循環(huán)測(cè)試
二. 特殊功能測(cè)試（非標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試）: 搭配測(cè)試機(jī)共同使用, 通過(guò)軟件控制機(jī)臺(tái), 通常設(shè)定3個(gè)溫度點(diǎn), 高溫（80℃或 120℃）, 常溫 25℃, 低溫 -50℃; 結(jié)合測(cè)試機(jī)測(cè)參數(shù), 測(cè)試時(shí)間可幾秒鐘, 幾十分鐘, 甚至幾個(gè)小時(shí).
三. 可靠性測(cè)試

上海伯東美國(guó) InTest ThermoStream 熱流儀是為觸摸屏芯片提供低溫或高溫環(huán)境來(lái)進(jìn)行可靠性測(cè)試的專用儀器, 因?yàn)槠淠茉诙虝r(shí)間內(nèi)迅速改變溫度而被廣泛應(yīng)用于芯片測(cè)試中, 能夠模擬觀察芯片在惡劣環(huán)境下的性能是否能維持正常水平. 測(cè)試系統(tǒng)在工作過(guò)程中, 會(huì)依據(jù)設(shè)定的溫度, 使系統(tǒng)通過(guò)特定的運(yùn)算得出結(jié)果并去控制加熱器來(lái)達(dá)到調(diào)節(jié)溫度的目的.

InTest 熱流儀功能特點(diǎn)

型號(hào): ATS-710E-M
溫度范圍: -80 至+225 °C
變溫速率: -55至 +125°C 約 10 s; +125至 -55°C 約 10 s
溫度顯示精度: ±1℃ (通過(guò)美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院 NIST 校準(zhǔn))
自動(dòng)升降溫: 冷凍機(jī)特殊設(shè)計(jì), 制冷劑不含氟利昂, 安全無(wú)毒, 不易燃, 有效保護(hù)環(huán)境; 不需要液態(tài)氮?dú)?LN2 或液態(tài)二氧化碳 LCO2 冷卻
預(yù)防結(jié)霜: 干燥氣流循環(huán)吹掃測(cè)試表面, 防止水汽凝結(jié) (氣體流量 0.5 至 3 scfm)
自動(dòng)待機(jī): 空閑或加熱模式下, 自動(dòng)減少能耗
加熱除霜: 快速去除冷凍機(jī)內(nèi)部積聚的水汽

ATS-710

美國(guó) InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過(guò) NIST 校準(zhǔn). 通過(guò) ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測(cè)試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國(guó) InTest 熱流儀中國(guó)總代理. 推薦熱流儀應(yīng)用案例 >>

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