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MCU 芯片溫度等級 |
等級 |
工作溫度范圍 |
備注 |
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Level 0 |
- 40℃~150℃ |
最高范圍 |
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Level 1 |
- 40℃~125℃ |
一般等級 |
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Level 2 |
- 40℃~105℃ |
一般等級 |
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Level 3 |
- 40℃~85℃ |
最低范圍 |
針對客戶提出的測試要求, 上海伯東提供微控制器 MCU 芯片高低溫測試解決方案
ECO-710E 測試的溫度范圍 -80 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, inTEST 高低溫測試機 ECO-710E 搭配 delta design 測試機共同進行微處理器芯片測試, 有效提高了芯片測試的速度和準確性, 快速進行在電工作的電性能測試, 失效分析, 可靠性評估等. inTEST 高低溫測試機的主要作用就是快速提供需要的模擬環境溫度, 解決了因為環境受限的芯片高低溫測試難題.

微處理器芯片高低溫測試方法:
1. 將待測微處理器芯片放置在玻璃罩中
2. 操作員設置需要測試的溫度范圍
3. 啟動 ThermoStream ECO-710E, 利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入制冷機進行低溫處理, 然后空氣經由外部管路到達加熱頭進行升溫, 氣流通過熱流罩進入測試腔. 玻璃罩中的溫度傳感器可實時監測當前溫度.
inTEST 熱流儀技術規格
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型號 |
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溫度范圍 °C |
-75 至 + 225 |
-75至+225 |
-80 至 +225 |
-60 至 +225 |
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變溫速率 |
-55 至 +125°C 約 10 S |
-55 至 +125°C 約 10 s |
-55 至 +125°C, ≤ 10S |
-40至+ 125°C < 12 s |
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空壓機 |
額外另配 |
額外另配 |
額外另配 |
內部集成空壓機 |
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控制方式 |
旋鈕式 |
觸摸屏 |
觸摸屏 |
旋鈕式 |
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氣體流量 scfm |
4 至 18 |
4 至 18 |
4 至18 SCFM |
5 |
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溫度顯示和分辨率 |
+/- 0.1°C |
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溫度精度 |
1.0°C(根據 NIST 標準校準時) |
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電源 |
200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase |
200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase |
200-250VAC, 50/60Hz, 20A,1phase |
220±10%VAC, 50/60Hz, 30A |
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微控制器 MCU 在生活中的應用非常廣泛, 各種家電設備, 消費電子, 工業品和車載電子幾乎都離不開 MCU 芯片, 工業級(或車規級)MCU 與消費級 MCU 最大的區別之一是可靠性要求不同, 工業與車載應用環境對產品可靠性要求更高, 需要更高的抗靜電能力, 更高的抗浪涌電壓與浪涌電流能力, 更寬的工作溫度范圍, 以及更長的壽命.
美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 熱流儀中國總代理.推薦熱流儀應用案例 >>
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上海伯東版權所有, 翻拷必究!
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