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微控制器 MCU 芯片需要進行溫度測試
通電測試時, 單一芯片需要在模擬環境下, 也就是不同的溫度下, 測試不同的參數, 驗證是否滿足設計的功能性, 比如通過高低溫測試機模擬溫度 80℃, 監測運行多個參數.
芯片進行高低溫測試時, 除了連接高低溫測試機外, 同時連接一些線纜接到專門的信號檢測儀器上, 查看在特定溫度下 -40℃ 至 160℃ 芯片的功能, 比如運行頻率,功耗等. InTest 高低溫測試機的主要作用就是快速提供需要的模擬環境溫度.

針對客戶提出的測試要求, 上海伯東提供微控制器 MCU 芯片高低溫測試解決方案
推薦選用美國 InTest Thermostream 熱流儀 ATS -545 可滿足客戶的測試標準條件.
1. ATS-545 可提供 -75 to +225°C (50Hz) 的測試溫度
能夠提供有效的均勻的吹掃氣流垂直的吹到客戶所需要的元器件的表面, 4 to 18scfm 風速供客戶根據不同要求提供選擇
2. 提供標準配件, 接受客戶定制, 滿足不同測試的元器件所需要的適當尺寸
3. 在溫度點之間的跳躍, 更快的速度實現切換, 變溫速率 -55至 +125°C <10 s, 溫度精度 ±0.1℃, 可以做 12組不同形式的循環溫度設定.
4. 并且以上操作不影響其他非測試元器件. 保證客戶的單向分析
InTest ATS-545 高低溫沖擊熱流儀

美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 熱流儀中國總代理.推薦熱流儀應用案例 >>

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