車(chē)規(guī)級(jí)芯片高低溫測(cè)試案例: 上海伯東客戶某知名半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)公司自主設(shè)計(jì)及研發(fā)國(guó)產(chǎn)車(chē)載芯片, 要求在溫度范圍 - 50 ℃~ 150 ℃ 時(shí)搭配模擬和混合信號(hào)測(cè)試儀, 在電工作下檢查不同溫度下所涉及到的元器件或模塊各項(xiàng)功能是否正常. 經(jīng)過(guò)伯東推薦, 客戶采購(gòu) InTest 高低溫測(cè)試機(jī) ATS-545, 測(cè)試溫度范圍 -75 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, 通過(guò)使用該設(shè)備, 大幅提高工作效率, 并能及時(shí)評(píng)估研發(fā)過(guò)程中的潛在問(wèn)題, 使產(chǎn)品符合汽車(chē)安全的電子產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)!
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車(chē)規(guī)級(jí)芯片高低溫測(cè)試方法
1. 將被測(cè)芯片或模塊放置在測(cè)試治具上, 將 ATS-545 的玻璃罩壓在相應(yīng)治具上 ( 產(chǎn)品放在治具中 ).
2. 設(shè)置需要測(cè)試的溫度范圍.
3. 啟動(dòng) ThermoStream ATS-545, 利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入高低溫測(cè)試機(jī)內(nèi)部制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理, 然后空氣經(jīng)由管路到達(dá)加熱頭進(jìn)行升溫, 氣流通過(guò)玻璃罩進(jìn)入測(cè)試腔. 玻璃罩中的溫度傳感器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)當(dāng)前腔體內(nèi)溫度.
4. 在汽車(chē)電子芯片測(cè)試平臺(tái)下, 高低溫測(cè)試機(jī) ATS-545 快速升降溫至要求的設(shè)定溫度, 實(shí)時(shí)檢測(cè)芯片在設(shè)定溫度下的在電工作狀態(tài)等相關(guān)參數(shù), 對(duì)于產(chǎn)品分析, 工藝改進(jìn)以及批次的定向品質(zhì)追溯提供確實(shí)的數(shù)據(jù)依據(jù).
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美國(guó) InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過(guò) NIST 校準(zhǔn). 通過(guò) ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測(cè)試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國(guó) InTest 熱流儀中國(guó)總代理.推薦熱流儀應(yīng)用案例 >>
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