InTest 熱流儀通信芯片高低溫沖擊測(cè)試案例
上海伯東某客戶是網(wǎng)絡(luò)通信芯片供應(yīng)商, 其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于關(guān)鍵通訊市場(chǎng), 包括網(wǎng)絡(luò), 數(shù)據(jù)中心, 存儲(chǔ)和工業(yè)等. 芯片測(cè)試溫度要求 -40℃ 至 120℃ 或 -55℃ 至 125℃, 并且在低溫 -40℃ 或 -55℃, 常溫 25℃, 高溫 125℃, 三個(gè)溫度持續(xù) 5-10分鐘的測(cè)試, 經(jīng)上海伯東推薦, 選用 inTEST ATS-545-M 熱流儀, 滿足通信芯片的快速高低溫沖擊測(cè)試.

上海伯東美國(guó) InTest ATS-545-M 熱流儀主要技術(shù)參數(shù)

上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀通信芯片高低溫沖擊測(cè)試

ATS-545-M
溫度范圍 °C: -75 至 + 225(50 HZ)
變溫速率: -55至 +125°C, 約 10 S 或更少
               +125至 -55°C, 約 10 S 或更少
輸出氣流量: 4 至 18 scfm
溫度精度: ±1℃ 通過(guò)美國(guó)NIST 校準(zhǔn)
溫度顯示分辨率: ±0.1℃
溫度傳感器: T或K型熱電偶
防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻


與傳統(tǒng)高低溫測(cè)試箱對(duì)比, InTest 熱流儀主要優(yōu)勢(shì)：
1. 變溫速率更快
2. 溫控精度：±1℃
3. 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度, 可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4. 針對(duì) PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊), 可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái) load board上的 IC進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無(wú)法針對(duì)此類測(cè)試
6. 對(duì)整塊集成電路板提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度

美國(guó) InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過(guò) NIST 校準(zhǔn). 通過(guò) ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測(cè)試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國(guó) InTest 熱流儀中國(guó)總代理. 推薦熱流儀應(yīng)用案例 >>

若您需要進(jìn)一步的了解 InTest 熱流儀詳細(xì)信息或討論, 請(qǐng)參考以下聯(lián)絡(luò)方式：
上海伯東: 葉小姐                                                 臺(tái)灣伯東: 王小姐
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同號(hào) )              M: +886-939-653-958

現(xiàn)部分品牌誠(chéng)招合作代理商, 有意向者歡迎聯(lián)絡(luò)上海伯東 葉小姐 1391-883-7267
上海伯東版權(quán)所有, 翻拷必究！

上海伯東版權(quán)所有, 翻拷必究！

推薦搭配

一鍵分享

分享此頁(yè)

上海伯東版權(quán)所有, 翻拷必究！

更新 : 2026-01-26

閱讀數(shù) : 343