氦質(zhì)譜檢漏儀 X 射線管檢漏

在生產(chǎn)和使用過程中為了達(dá)到以下三個(gè)目的需要對(duì) X射線管進(jìn)行氦質(zhì)譜檢漏
1. 保護(hù)燈絲不被氧化, 氮化,延遲燈絲壽命;
2. 減少空氣分子對(duì)X射線的衰減;
3. 避免空氣分子被電離發(fā)出輝光影響效果

上海伯東 X 射線管氦質(zhì)譜檢漏方法: X射線管在生產(chǎn)過程中和封裝完成后, 均需要進(jìn)行氦質(zhì)譜檢漏
生產(chǎn)過程中采用氦質(zhì)譜檢漏儀真空法測試, 把檢漏儀 ASM 340D 和射線管通過定制的夾具連接起來, 設(shè)定判斷產(chǎn)品合格的漏率值 1E-10 Pa m3/s. 啟動(dòng)氦質(zhì)譜檢漏儀, 把X射線管抽至 1E-4Pa 的真空度, 待真空度穩(wěn)定后在管件外部(如連接部位, 焊接部位等)噴氦氣, 如果泄漏量超過設(shè)定值, 檢漏儀會(huì)報(bào)警并提示測試人員, 及時(shí)發(fā)現(xiàn)不良產(chǎn)品.

封裝完成后,采用氦質(zhì)譜檢漏儀“背壓法”檢漏, 將被檢封裝激光芯片放入真空保壓罐, 壓力和時(shí)間根據(jù)漏率大小設(shè)定, 取出封裝激光芯片, 使用空氣或氮?dú)獯祾弑砻婧夂? 利用氦質(zhì)譜檢漏儀吸槍法, 用吸槍對(duì)封裝 X 射線管表面進(jìn)行嗅探, 從而判斷是否有漏.

氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340 技術(shù)參數(shù):

型號(hào)

ASM 340 D

氦質(zhì)譜檢漏儀 X 射線管檢漏

對(duì)氦氣的最小檢測漏率

5E-13 Pa m3/s

檢測模式

真空模式和吸槍模式

檢測氣體

4He, 3He, H2

啟動(dòng)時(shí)間 min

3

對(duì)氦氣的抽氣速度 l/s

2.5

進(jìn)氣口最大壓力 hPa

25

前級(jí)泵抽速 m3/h

隔膜泵 3.4

重量 kg

45


X 射線管在醫(yī)學(xué)上用于診斷和治療, 在工業(yè)技術(shù)方面用于材料的無損檢測, 結(jié)構(gòu)分析,光譜分析和底片曝光等, 醫(yī)學(xué)方面常用于計(jì)算機(jī)斷層掃描 ct 設(shè)備, x射線衍射設(shè)備, x射線醫(yī)學(xué)影像成像設(shè)備等.

結(jié)合了 Pfeiffer 與 Adixen 兩家氦質(zhì)譜檢漏儀的技術(shù)優(yōu)勢(shì), 上海伯東普發(fā) Pfeiffer 提供氦質(zhì)譜檢漏儀完整的產(chǎn)品線, 從便攜式氦質(zhì)譜檢漏儀到檢漏模塊, 提供負(fù)壓檢漏 (真空法) 和正壓檢漏(吸槍法), 滿足各種應(yīng)用. 氦質(zhì)譜檢漏儀與傳統(tǒng)泡沫檢漏和壓差檢漏對(duì)比, 在提供無損檢漏的同時(shí)可以檢測出更小的漏率 5E-13 Pa m3/s, 利用氦氣作為示蹤氣體定位, 定量漏點(diǎn). 氦質(zhì)譜檢漏儀滿足單機(jī)檢漏, 也可集成在檢漏系統(tǒng)或 PLC. 上海伯東氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用案例 >>

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更新 : 2026-02-09

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