欧美精品一区二区在线精品,超碰97AV女优,亚洲综合无码一区二区

SiC 碳化硅功率器件的溫度測試主要包含以下幾個方面：‌
1. 靜態(tài)測試: 靜態(tài)測試一般指電壓, 電流, 功率和溫度等方面的測試. 溫度測試用于評估 SiC 碳化硅器件在通電使用, 帶溫環(huán)境下的工作穩(wěn)定性, 確保其能夠在惡劣環(huán)境下穩(wěn)定工作
inTEST SiC 碳化硅功率器件溫度測試

2. 可靠性測試: 可靠性測試主要包括壽命測試, 溫度循環(huán)測試和濕熱循環(huán)測試等方面. 包括 AEC-Q10,‌ AQG-324 和 JEDEC-JC70 等標準. 這些標準涵蓋了從高溫反向偏置 HTRB, ‌高溫柵極偏置 HTGB, ‌溫度循環(huán) TC 到高濕高溫反向偏壓 H3TRB 等多種測試類型, 以確保 SiC 碳化硅器件的質(zhì)量和可靠性. 溫度循環(huán)測試用于模擬 SiC 碳化硅器件在不同溫度下的工作情況, 以評估其在溫度變化環(huán)境下的穩(wěn)定性.
InTest ATS-545

3. 極限能力測試: 極限能力測試主要包括耐壓測試, 耐電流測試和耐溫度測試等方面. 耐溫度測試用于評估器件在極端溫度條件下的穩(wěn)定性, 對 SiC 碳化硅器件進行高低溫沖擊測試, 確保其在極端溫度環(huán)境下的可靠性.
InTest eco-710

上海伯東美國 inTEST 熱流儀兼容市面上各類半導體測試機平臺, 完成再電測試下的各類測試. 通過對 SiC 碳化硅器件的關(guān)鍵性能進行全面測試和分析, 確保器件的性能和質(zhì)量, 這也為 SiC 器件的研發(fā)和改進提供了重要的技術(shù)支持.

inTEST 熱流儀可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy, 是德 keysight 等聯(lián)用, 進行 SiC 碳化硅功率器件溫度沖擊測試 Thermal shock 和溫度循環(huán)測試 Thermal cycle.

inTEST 高低溫沖擊熱流儀熱銷型號

型號	BT 28	ATS-545	ATS-710E	ECO-710E	ATS-535
參考圖片
類型	桌面型	移動式	移動式	移動式	移動式
溫度范圍 °C	-28 至 +225	-75 至 + 225	-75至+225	-80 至 +225	-60 至 +225
變溫速率	-10 至 +125°C, 約 10 s +125 至 -10°C, 約 10 S	-55 至 +125°C 約 10 s +125 至 -55°C 約 10 S	-55 至 +125°C 約 10 s +125 至 -55°C 約 10 s	-55 至 +125°C, ≤ 10 s 125 至 -55°C, ≤ 10S	-40至+ 125°C < 12 s +125至-40°C < 40 s
空壓機	根據(jù)應用選配	額外另配	額外另配	額外另配	內(nèi)部集成空壓機
控制方式	觸摸屏	旋鈕式	觸摸屏	觸摸屏	旋鈕式
氣體流量 scfm	14	4 至 18	4 至 18	4 至18	5
溫度顯示和分辨率	+/- 0.1°C
溫度精度	1.0°C（根據(jù) NIST 標準校準時）
電源	200-230 VAC +/-10% 50 Hz, 15 A	200-250 VAC 50 / 60Hz 30A,1phase	200-250 VAC 50 / 60Hz 30A,1phase	200-250 VAC 50 / 60Hz 20A,1phase	220±10% VAC 50 / 60Hz 30A 和 16A

美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 熱流儀中國總代理. 推薦熱流儀應用案例 >>

若您需要進一步的了解 InTest 熱流儀詳細信息或討論, 請參考以下聯(lián)絡方式：
上海伯東: 葉小姐臺灣伯東: 王小姐
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同號 ) M: +886-939-653-958

現(xiàn)部分品牌誠招合作代理商, 有意向者歡迎聯(lián)絡上海伯東葉小姐 1391-883-7267
上海伯東版權(quán)所有, 翻拷必究！