SiC 碳化硅功率器件的溫度測試主要包含以下幾個方面:‌
1. 靜態測試: 靜態測試一般指電壓, 電流, 功率和溫度等方面的測試. 溫度測試用于評估 SiC 碳化硅器件在通電使用, 帶溫環境下的工作穩定性, 確保其能夠在惡劣環境下穩定工作
inTEST SiC 碳化硅功率器件溫度測試

2. 可靠性測試: 可靠性測試主要包括壽命測試, 溫度循環測試和濕熱循環測試等方面. 包括 AEC-Q10,‌ AQG-324 和 JEDEC-JC70 等標準. 這些標準涵蓋了從高溫反向偏置 HTRB, ‌高溫柵極偏置 HTGB, ‌溫度循環 TC 到高濕高溫反向偏壓 H3TRB 等多種測試類型, 以確保 SiC 碳化硅器件的質量和可靠性. 溫度循環測試用于模擬 SiC 碳化硅器件在不同溫度下的工作情況, 以評估其在溫度變化環境下的穩定性.
InTest ATS-545

3. 極限能力測試: 極限能力測試主要包括耐壓測試, 耐電流測試和耐溫度測試等方面. 耐溫度測試用于評估器件在極端溫度條件下的穩定性, 對 SiC 碳化硅器件進行高低溫沖擊測試, 確保其在極端溫度環境下的可靠性.
InTest eco-710

上海伯東美國 inTEST 熱流儀兼容市面上各類半導體測試機平臺, 完成再電測試下的各類測試. 通過對 SiC 碳化硅器件的關鍵性能進行全面測試和分析, 確保器件的性能和質量, 這也為 SiC 器件的研發和改進提供了重要的技術支持.

inTEST 熱流儀可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy, 是德 keysight 等聯用, 進行 SiC 碳化硅功率器件溫度沖擊測試 Thermal shock 和溫度循環測試 Thermal cycle.

inTEST 高低溫沖擊熱流儀熱銷型號

型號

BT 28

ATS-545

ATS-710E

ECO-710E

ATS-535

參考
圖片

InTest BT28 桌面型高低溫熱流儀

InTest ATS 545 高低溫沖擊熱流儀

InTest ATS-710E 高低溫沖熱流儀

InTest ATS-710E 高低溫沖擊熱流儀

InTest ATS-535 集成空壓機的熱流儀

類型

桌面型

移動式

移動式

移動式

移動式

溫度
范圍 °C

-28 至 +225

-75 至 + 225

-75至+225

-80 至 +225

-60 至 +225

變溫
速率

-10 至 +125°C, 約 10 s
+125 至 -10°C, 約 10 S

-55 至 +125°C 約 10 s
+125 至 -55°C 約 10 S

-55 至 +125°C 約 10 s
+125 至 -55°C 約 10 s

-55 至 +125°C, ≤ 10 s
125 至 -55°C, ≤ 10S

-40至+ 125°C < 12 s
+125至-40°C < 40 s

空壓機

根據應用選配

額外另配

額外另配

額外另配

內部集成空壓機

控制
方式

觸摸屏

旋鈕式

觸摸屏

觸摸屏

旋鈕式

氣體
流量
scfm

14

4 至 18

4 至 18

4 至18

5

溫度
顯示
和分
辨率

+/- 0.1°C

溫度
精度

1.0°C(根據  NIST 標準校準時)

電源

200-230 VAC 
+/-10% 
50 Hz, 15 A

200-250 VAC
50 / 60Hz
30A,1phase

200-250 VAC
50 / 60Hz
30A,1phase

200-250 VAC
50 / 60Hz
20A,1phase

220±10% VAC
50 / 60Hz
30A 和 16A


美國 InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 InTest 流儀中國總代理. 推薦熱流儀應用案例 >>

若您需要進一步的了解 InTest 流儀詳細信息或討論, 請參考以下聯絡方式:
上海伯東: 葉小姐                                                臺灣伯東: 王小姐
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同號 )              M: +886-939-653-958

現部分品牌誠招合作代理商, 有意向者歡迎聯絡上海伯東 葉小姐 1391-883-7267
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SiC 碳化硅功率器件溫度測試

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更新 : 2026-01-23

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