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InTest ThermoStream 高低溫沖擊熱流儀提供 AI 芯片溫度循環(huán)測(cè)試解決方案
AI 芯片溫度循環(huán)測(cè)試的目的是評(píng)估芯片在不同溫度條件下的性能和可靠性, 以模擬實(shí)際使用環(huán)境中的溫度變化. 該測(cè)試旨在驗(yàn)證芯片在溫度變化時(shí)是否能夠正常工作, 以及是否能夠保持穩(wěn)定性和可靠性.

溫度循環(huán)測(cè)試通常涵蓋了芯片所需的操作溫度范圍, 包括常溫, 極端高溫和低溫. 具體溫度范圍根據(jù)芯片的設(shè)計(jì)要求和應(yīng)用場(chǎng)景來確定. 測(cè)試中會(huì)進(jìn)行多個(gè)溫度循環(huán), 其中一個(gè)循環(huán)包括一段時(shí)間的高溫暴露和一段時(shí)間的低溫暴露. 循環(huán)次數(shù)可以根據(jù)芯片的設(shè)計(jì)壽命要求來確定.

上海伯東美國(guó) InTest 熱流儀溫度范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃,滿足 AI 芯片溫度測(cè)試需求.

型號(hào)	BT 28	ATS-545	ATS-710E	ECO-710E	ATS-535
外觀
類型	桌面型	移動(dòng)式	移動(dòng)式	移動(dòng)式	移動(dòng)式
溫度范圍 °C	-28 至 +225	-75 至 + 225	-75 至+225	-80 至 +225	-60 至 +225
變溫速率	-10 至 +125°C 約 10 S +125至 -10°C 約 10 S	-55 至 +125°C 約 10 S +125 至 -55°C 約 10 S	-55 至 +125°C 約 10 s +125 至 -55°C 約 10 s	-55 至 +125°C, ≤ 10S 125 至 -55°C, ≤ 10S	-40至+ 125°C < 12 s +125至-40°C < 40 s
空壓機(jī)	根據(jù)應(yīng)用選配	額外另配	額外另配	額外另配	內(nèi)部集成空壓機(jī)
控制方式	觸摸屏	旋鈕式	觸摸屏	觸摸屏	旋鈕式
氣體流量 scfm	4 至 14	4 至 18	4 至 18	4 至18	5
溫度顯示和分辨率	+/- 0.1°C
溫度精度	1.0°C（根據(jù) NIST 標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)時(shí)）
電源	200-230 VAC ±10% 50 Hz 15 A	200-250 VAC 50 / 60Hz 30A,1phase	200-250 VAC 50 / 60Hz 30A,1phase	200-250 VAC 50 / 60Hz 20A,1phase	220 VAC ±10% 50 / 60Hz 30A 和 16A

InTest ThermoStream 高低溫沖擊熱流儀特點(diǎn)

一. 支持各種高低溫可靠性驗(yàn)證
AI 芯片（如 GPU, TPU 等）因高算力需求常面臨復(fù)雜熱環(huán)境挑戰(zhàn), 需通過熱流儀模擬極端溫度條件進(jìn)行可靠性測(cè)試.上海伯東 inTEST 熱流儀 -100 ℃ 至+ 300 ℃ 溫度范圍, 使用自主研發(fā)的 New ThermoStream® OCM 系統(tǒng), 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 配給觸屏的人機(jī)控制界面,可精準(zhǔn)定位單個(gè) IC 模塊的溫度沖擊響應(yīng), 確保 AI 芯片在極端環(huán)境下的穩(wěn)定性.

二. 超強(qiáng)的局部精準(zhǔn)溫控技術(shù)
傳統(tǒng)高低溫箱難以針對(duì) PCB 板上特定芯片進(jìn)行獨(dú)立測(cè)試, 上海伯東 inTEST 熱流儀通過氣流聚焦技術(shù), 僅針對(duì)目標(biāo)芯片施加溫度沖擊, 避免周邊元器件受干擾, 尤其適合高集成度的 AI 芯片模組測(cè)試, 熱流儀通過實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)芯片在高溫, 低溫及溫度循環(huán)中的電性能參數(shù), 為故障分析提供數(shù)據(jù)支持.

三. 測(cè)試效率極高
上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀的快速溫變能力（10秒內(nèi)完成 -50℃ 至 125℃ 切換 *實(shí)驗(yàn)環(huán)境）大幅縮短測(cè)試周期, 生成的海量溫度性能數(shù)據(jù)為 AI芯片的工藝改進(jìn)提供依據(jù). 例如, 通過分析不同溫度下的芯片失效模式, 優(yōu)化封裝材料或散熱設(shè)計(jì).

美國(guó) InTest ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準(zhǔn). 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證. InTest熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測(cè)試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國(guó) InTest 熱流儀中國(guó)總代理.推薦熱流儀應(yīng)用案例 >>

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