電子元器件檢漏系統功能
定制腔體內放入經過壓氦的電子元器件, 真空模式下, 測試元件的整體漏率值.
模塊化檢漏儀應用于電子元器件檢漏系統

結合了 Pfeiffer 與 Adixen 兩家氦質譜檢漏儀的技術優勢, 上海伯東普發 Pfeiffer 提供氦質譜檢漏儀完整的產品線, 從便攜式氦質譜檢漏儀到檢漏模塊, 提供負壓檢漏 (真空法) 和正壓檢漏(吸槍法), 滿足各種應用. 氦質譜檢漏儀與傳統泡沫檢漏和壓差檢漏對比, 在提供無損檢漏的同時可以檢測出更小的漏率 5E-13 Pa m3/s, 利用氦氣作為示蹤氣體定位, 定量漏點. 氦質譜檢漏儀滿足單機檢漏, 也可集成在檢漏系統或 PLC. 上海伯東氦質譜檢漏儀應用案例 >>

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上海伯東 Pfeiffer 普發模塊化檢漏儀 ASI 35 應用于電子元器件檢漏系統

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更新 : 2026-01-30

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